Micro.View+ 模块化光学轮廓仪，具备卓越重复精度

TopMap Micro.View®+ 是一款采用闭环控制原理的表面轮廓仪，实现了无与伦比的重复精度。这款模块化三维测量设备支持根据应用需求进行配置，最大可测量样品高度达370毫米。Micro.View®+ 能提供精确的三维形貌数据，用于分析粗糙度、纹理、微结构或MEMS，分辨率可达亚纳米级别。相移模式可呈现极其清晰的图像，尤其适用于光滑表面。将三维高度数据与彩色视图相结合，可提升文档记录和可视化效果。
电动转盘支持在最多5个物镜间自动切换。特别开发的TopMap 0.6倍物镜扩展了您的测量能力，实现高分辨率形状测量。创新的聚焦查找器和聚焦跟踪器确保被测物在任何情况下都能保持清晰对焦。全电动定位台与真实拼接模式相结合，可轻松自动化完成超大样品的测量流程。紧凑版本占地面积极小，同时不牺牲测量性能。

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