自动化检测系统E-LIT
2026-01-20 09:02:07
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用于无损电子与半导体模块检测的热成像系统
热成像检测系统"E-LIT"是一款自动化解决方案，
专为半导体材料及电子元器件与电路的无接触故障检测而设计。
该模块化系统既可在研发早期阶段使用，
也可应用于后续持续生产过程中，
采用电激励锁相热成像技术，
能够精确识别并定位各类缺陷，
例如点状与线状短路，
以及操作、制造与氧化过程中产生的瑕疵。
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