模块化三维轮廓仪，用于亚纳米级分辨率的粗糙度与微结构测量

TopMap Micro.View+ 是Polytec推出的新一代光学表面测量技术。其模块化设计支持广泛配置，可定制测量解决方案——无论是精密加工零件或微系统上的粗糙度、纹理或微结构、形状或粗糙度。Micro.View+专为测量实验室和研究设计，但通过传感器集成，也支持在线应用和节拍式生产控制。可视化三维形貌，并利用色彩模式进行更具表现力的展示和区分，例如表面缺陷或用于文档记录。可选配500万像素相机，提供表面质地和形状的可靠细节，从而为优化加工过程提供直接反馈。
模块化与自动化：适用于检测实验室及在线应用
丰富的配件包简化并加速您的测量过程。Focus Finder和创新的Focus Tracker确保在任何情况下和重新定位期间，被测物始终处于焦点位置，而全电动定位台支持拼接和自动化检测，同时自动调整尖端/倾斜角度。
 高端白光干涉仪，具备亚纳米Z轴分辨率
 100毫米垂直测量范围，采用CST连续扫描技术实现连续测量
 Focus Finder和Focus Tracker支持自动检测
 电动倾斜台和转台用于自动化操作
 操作员界面用于创建和加载测量配方，以及生产级别的一键式解决方案
 模块化设计，支持特定应用配置
 新功能：扩展的物镜选项0.6X至111X现已可用

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